La microscopía electrónica es muy diferente a la microscopía óptica aún cuando las imágenes que se obtienen parecen ser muy reales e iluminadas naturalmente. Por esta razón, resulta de gran importancia conocer las técnicas en las que se basa.La microscopía de escaneo electrónico (Scanning electron microscopy (SEM) ) o microscopía de prueba electrónica (electron probe microanalysis (EPMA) ) son generalmente consideradas como técnicas micro analíticas, las cuales son capaces de analizar materiales que generalmente no se pueden observar con una resolución ofrecida con técnicas visibles. Se utiliza el término “image” para fotografiar un objeto mucho más pequeño de lo que podemos ver, aún con la ayuda de un microscopio óptico. Aquí se muestra una breve explicación de los tipos de microscopía electrónica:
Los microscopios de escaneo electrónico han sido usados generalmente como cámaras, esto es, para fotografiar objetos más allá de las capacidades de microscopios electrónicos. Mientras las imágenes obtenidas parecen reales, la aparente iluminación es función de la emisión de partículas más que la radiación a la que estamos más familiarizados. Estas partículas son llamadas “electrones secundarios”, y su detección vía SE es mostrada con una TV de escaneo.
Los micro analizadores de prueba electrónica son diseñados del análisis de rayos X , los cuales son emitidos del espécimen cuando se prueba con electrones. Las consideraciones del diseño principalmente acomodan de tres a seis ondas dispersivas de espectrómetros de rayos X los cuales son intrínsecamente largos.
La utilidad de cuantificar la composición de los elementos es invaluable en ciencias como mineralogía, petrología e investigación de materiales. Si quisieras conocer más de la forma en cómo trabajan estos sistemas, consulta:
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